Moscow Engineering Physics Institute (State University), Moscow, Russia;
Moscow Engineering Physics Institute (State University), Moscow, Russia;
Moscow Engineering Physics Institute (State University), Moscow, Russia;
grain size; fluctuations of x-ray intensity; texture; pole figures; XRD;
机译:强度统计波动确定不同质地成分的晶粒度,并记录在质地测量过程中
机译:用于预测重结晶织构,动力学和晶粒尺寸的织构成分Avrami模型
机译:基于薄片的晶粒尺寸和织构的统计尺寸效应
机译:通过统计强度的统计波动测定不同纹理成分的粒度,在纹理测量过程中注册
机译:晶体织构和晶粒尺寸对镁合金低温变形和可成形性的作用
机译:背景纹理的尺寸统计对感知目标尺寸的影响
机译:用纹理测量过程中登记的强度统计波动确定不同纹理成分的粒度
机译:单个晶粒取向测量中的织构测定