Motorola Process and Materials Characterization Laboratory, Mesa AZ 85202;
机译:椭圆偏振光谱法研究InP从红外到真空紫外的光学性质
机译:真空紫外光谱法和椭圆偏振光谱法测定聚苯乙烯的光学性质和范德华-伦敦色散相互作用
机译:真空紫外光谱法和椭圆偏振光谱法测定非晶态和结晶态SiO_2的光学性质和伦敦色散相互作用
机译:用真空紫外线椭圆椭偏术III-V氮化物异质结构中使用的常用底物材料光学性质的测定和临界评价
机译:使用透明角和原子层沉积技术制造的异质结构超材料的晶状体性能,并使用有限元和光谱椭圆形测定方法分析
机译:具有增强的导热性能的三维异质结构还原氧化石墨烯-六方氮化硼堆叠材料
机译:真空紫外光谱和光谱椭偏仪测定无定形二氧化硅的光学性质和伦敦分散力
机译:用可变角度椭偏仪研究GaN和其他III族氮化物半导体材料的光学特性