【24h】

Novel method of determing the coirugation depth of phase grating

机译:确定相位光栅波纹深度的新方法

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摘要

In this letter a novel method is proposed for characterizing the phase mask by zero-order diffraction measurement at different wavelengths.The experimental observation is good in agreement with the theoretical analysis.
机译:本文提出了一种在不同波长下通过零阶衍射测量表征相位掩模的新方法。实验观察与理论分析吻合良好。

著录项

  • 来源
  • 会议地点 Wuhan(CN);Wuhan(CN)
  • 作者单位

    P.Y.Wen@Department of physics Peking UniversityBeijing 100871 P.R.China--X.M.Cui@Department of physics Peking UniversityBeijing 100871 P.R.China--H.D.Liu@Department of physics Peking UniversityBeijing 100871 P.R.China--E.Y.B.Pun@F.Department of Electronic EngineeringCity University of Hong Kong Tat Chee Avenue,Kow Loon,Hong Kong--P.S.Chung@F.Department of Electronic EngineeringCity University of Hong Kong Tat Chee Avenue,Kow Loon,Hong Kong--;

  • 会议组织
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  • 正文语种 eng
  • 中图分类 通信;
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