Research Institute of Electronics, Shizuoka University,3-5-1 Johoku Nakaku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8011, Japan;
Research Institute of Electronics, Shizuoka University,3-5-1 Johoku Nakaku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8011, Japan;
Research Institute of Electronics, Shizuoka University,3-5-1 Johoku Nakaku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8011, Japan;
Research Institute of Electronics, Shizuoka University,3-5-1 Johoku Nakaku, Hamamatsu, Shizuoka 432-8011, Japan;
CMOS image sensor; confocal multi-beam scanning microscopy; focal-plane pinhole effect;
机译:一种简单实用的方法,可在定制的视频速率激光扫描显微镜中使用基于共振扫描的线扫描来获取几何正确的图像。
机译:荧光指示剂INDO-1对二维钙成像中两光子激发激光扫描显微镜与紫外共聚焦激光扫描显微镜的比较
机译:通过高性能计算合成先进的CMOS工艺的扫描电子显微镜图像
机译:用于多光束激光扫描显微镜的定制CMOS成像器和扫描速度的提高
机译:在激光扫描显微镜图像中自动检测和分析树突棘。
机译:Connectomics研究中用于高通量成像的多束扫描电子显微镜
机译:Nd:YAG激光照射齿的成像和非接触型分析通过扫描电子显微镜和共聚焦激光扫描显微镜