Agilent Technologies RD and Marketing GmbH Co. KG Herrenberger Str. 130, 71034 Boeblingen, Germany;
cost of test; test economics; multi-site test; ATE; reduced pin-count testing; low-cost ATE; probe-card; I/O bandwidth matching;
机译:并行测试技术可降低测试成本
机译:组成:采用并行-串行扫描设计的可简化测试计划的设计,以降低测试应用程序的成本
机译:动态选择:测试工程师正在使用功能强大的车辆动力学仿真软件来非常有效地减少开发时间和成本
机译:并行测试比廉价的测试仪更有效地降低测试成本
机译:超低成本测试仪(VLCT)和LabViewRTM测试平台下电流模式集成电路的测试方法。
机译:纠正不符合测试结果后被动抬腿测试可有效减少败血性休克中的补液
机译:用于低成本测试仪的高速a / D转换器测试的替代测试方法
机译:macTester:用于交互式测试和调试的低成本功能测试程序