Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, 100871, P. R. China ((Phone: +86 351 3942729 Fax: +86 351 3921336;
Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, 100871, P. R. China;
artificial neural network; cantilever beam; micro-electro-mechanical system; wavelet transformation;
机译:微米和纳米级金属薄膜的静态和动态力学性能的测量:使用微悬臂梁偏转
机译:微米和纳米级金属薄膜的静态和动态力学性能的测量:使用微悬臂梁偏转
机译:静载荷作用下具有中心圆孔的各向同性,正交各向异性和层合板的应力集中和挠度的有限元分析
机译:横向静态载荷下的各向同性和正交矩形板偏转分析
机译:静态和随机振幅疲劳载荷下部分预应力混凝土T梁的变形和挠度
机译:受约束的钢梁在火灾和爆炸载荷下的大挠度响应
机译:轴向和横向联合荷载作用下具有多个单边裂纹的Euler-Bernoulli梁的静力分析