BIAS-Bremer Institut fuer angewandte Strahltechnik, Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany,Faculty of Science, Department of physics, Aswan University, 81528 Aswan, Egypt;
BIAS-Bremer Institut fuer angewandte Strahltechnik, Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany;
BIAS-Bremer Institut fuer angewandte Strahltechnik, Klagenfurter Str. 2, 28359 Bremen, Germany,Faculty 01: Physics and Electrical Engineering, University of Bremen, 28359 Bremen, Germany;
Shear Interferometry; Quantitative phase contrast; Phase measurements; Shape measurements;
机译:薄相物体的定量测量:散斑偏转测量和散焦侧剪切干涉法的比较
机译:使用衍射光学元件的掠入射干涉法测量棒状物体地幔表面的形状I:测量原理和理论
机译:使用衍射光学元件的掠入射干涉法测量棒状物体的地幔表面的形状II:实验和误差评估
机译:使用计算剪切干涉测量测量微观物体的形状测量
机译:对比机制影响使用电子剪切散斑图案干涉测量光热变形的测量。
机译:结合白光扫描干涉法的混合原子力显微镜测量系统的开发
机译:同时移位剪切干涉测量,用于测量静态和动态相位对象
机译:全息波纹干涉中任意形状物体表面应变的确定