Department of Electrical and Electronic Systems Hachinohe Institute of Technology 88-1 Aza-oubiraki Ouaza-myou Aomori 031-8501 Japan;
Permittivity; Ceramics; Substrates; Cavity resonators; Resonant frequency; Permittivity measurement;
机译:共沉淀法制备的CaCu_Ti_4O_(12)陶瓷:粒料和厚膜的介电性能
机译:丝网印刷法制备的MgB_2 / In复合厚膜在陶瓷基底上的性能
机译:在不同陶瓷基板上的PZT厚膜;压电测量
机译:通过施加模式匹配方法在10GHz波段下使用TE011分流圆形腔谐振器在陶瓷基板上的厚陶瓷膜的精度测量
机译:厚膜多层膜中玻璃陶瓷电介质的高温电性能和失效机理
机译:纳米厚的晶体碳膜具有a在ZnO基材上生长的尖晶石结构:对新陶瓷 - 碳的影响作品
机译:共沉淀法制备的CaCu3Ti4O12陶瓷:粒料和厚膜的介电性能
机译:利用au-pt-pd厚膜导体在低温共烧陶瓷(LTCC)基板上分析细间距,倒装芯片焊料互连的拉伸强度行为