机译:单体终端光子诱导的U-235,U-238和PU-239的裂变横截面比率测量从9.0至17.0 mev
机译:来自中子诱导的NP-237的碎片的角分布和各向异性在1-200 meV的能量范围内的NP-237:测量数据和模型计算
机译:U-233和Bi-209的中子引起的裂变在1-200 MeV的中间能量范围内的碎片的角分布和各向异性
机译:测量中子诱导的Th-232,U-238,U-233和NP-237相对于U-235的裂变横截面,从1MeV到200 meV
机译:自旋相关的总横截面测量值Deltasigma L,DeltasigmaT,在200和520 MeV之间的P-P散射中。
机译:CVD金刚石至70meV质子快节中子和200meV接头的辐射耐受性研究
机译:测量从0.5到20 MeV相对于235U的243Am的中子诱发裂变截面的测量
机译:测量中性引起的裂变截面243am相对于235U从0.1 meV到30 meV