錫薄膜センサを用いた複合加速試験中の太陽電池モジュール内酢酸検出

摘要

太陽電池(PV)モジュールの信頼性を評価するDamp-heat(DH)試験(85ºC, 85% RH)中にPV モジュールに水分が浸入し，発電性能の劣化の原因となる酢酸が発生する[1]．紫外線(UV)照射後のDH試験により，事前UV 照射によって，DH 試験中のPV モジュールの劣化が促進されることが報告されている[2]．PV モジュールの劣化挙動を解明するために，屋外環境により近いUV 照射とDH環境の複合試験において，PV モジュール内部での酢酸発生状況を評価することが求められる．