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Cost-effective generation of minimal test sets for stuck-at faults in combinational logic circuits

机译：具有成本效益的生成最小测试集的组合逻辑电路中的卡死故障

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来源
《Proceedings of the 30th international conference on Design automation》|1993年|P.102-106|共5页
会议地点 Dallas TX(US)
作者
Seiji Kajihara; Irith Pomeranz; Kozo Kinoshita; Sudhakar M. Reddy;
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作者单位

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类计算技术、计算机技术;
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