With the advent of large scale and medium scale integrated circuit, test and diagnosis of digital logic circuits become more and more difficult to get an efficient and economical goal.
rnIn this paper, Test Generation Systems for testing digital logic circuits (IC Cards) in Japan are introduced. One implemented in Nippon Electric Co. is described in detail. Future problems of Test Generation Systems are also briefly discussed.
随着大规模和中型集成电路的出现,数字逻辑电路的测试和诊断变得越来越难以实现有效和经济的目标。 P> rn
本文介绍了测试生成系统介绍了用于测试日本数字逻辑电路(IC卡)的工具。详细描述了在Nippon Electric Co.中实现的一种。还简要讨论了测试生成系统的未来问题。 P>
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