CEA, LE RIPAULT, F-37260 Monts, France;
Carl Zeiss AG, Service and Manufacturing Network, Coating Technology Department, D-73446 Oberkochen, Germany;
QOL, 13 Avenue Louise Michel. 28500 Vernouillet, France;
reflectometer; aspheric surface; spectrophotometer; antireflective coating;
机译:校正地表物体的高光谱反射率测量值以及地表水的直接太阳反射
机译:清晰定义的纹理表面上的光谱双向反射率分布函数测量:直接观察阴影,遮罩,相互反射和透明效果
机译:表面反射对通过光谱红外测量估算垂直温度-湿度分布的影响
机译:陡峭球面反射中的光谱测量
机译:使用测试板和计算机生成的全息图测量非球面。
机译:离轴圆锥非球面形状的形状测量方法与实验
机译:非球面表面的计量支撑形成光学行业中的参数偏差测量