Silesian University of Technology, Institute of Electronics ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice, Poland;
analog circuits; analog system testing; circuit testing; evolutionary techniques; optimization;
机译:基于混合负选择算法和遗传算法的最优路径测试数据生成
机译:基于多种操作模式的系统的基于最优测试选择的分组遗传算法
机译:基于频率响应分析和遗传算法的变压器暂态测试脉冲发生器最优设置
机译:使用遗传算法在最佳测试频率选择中
机译:利用FACTS器件的最佳电容器选择和最佳功率流的遗传算法。
机译:基于混合负选择算法和遗传算法的最优路径测试数据生成
机译:基于混合负选择算法和遗传算法的最优路径测试数据生成