Q-Peak, Inc., 135 South Rd., Bedford, MA, USA 01730-2307;
Q-Peak, Inc., 135 South Rd., Bedford, MA, USA 01730-2307;
BAE Systems, Inc., MER15-1813, P.O. Box 868, Nashua, NH, USA 03061-0868;
laser calorimetry; characterization; nonlinear optical materials; absorption coefficient; orientation-patterned GaAs; orientation-patterned GaP; OP-GaAs; OP-GaP;
机译:通过IC量热和微重力(QMB)组合测量确定对映体吸收到薄手性涂层中的摩尔热-I. IC量热测量
机译:准气相匹配的氢化物气相外延直接在GaAs上定向异质外延
机译:氢化物气相外延在晶片融合的GaAs模板上厚厚地定向生长GaP的频率转换
机译:定向图案差距和GaAs中吸收损失的量热测量
机译:GaP和GaAsP上的应变平衡InGaP / InGaP多量子阱电吸收调制器。
机译:栅GaAs二维电子气中自旋间隙的直接测量
机译:低损耗取向图案GaAs波导中的二次谐波产生