【24h】

Polysilicon Nanowires for chemical sensing applications

机译:用于化学传感应用的多晶硅纳米线

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Polycrystalline silicon nanowires are synthesized using a classical fabrication method commonly used in microelectronic industry: the sidewall spacer formation technique. Assets of this technological process rest on low cost lithographic tools use, classical silicon planar technology compatibility and the possibility to get by direct patterning numerous parallel nanowires with precise location on the substrate. Grounded and suspended polycrystalline silicon nanowires with a curvature radius as low as 150nm are integrated into resistors and used as gas (ammonia) sensors. Results show potential use of these nanowires for charged chemical species detection with an increase of the sensitivity with the increase of SiNWs exchange surface with the environment.
机译:多晶硅纳米线是使用微电子工业中常用的经典制造方法合成的:侧壁间隔物形成技术。该工艺过程的资产取决于低成本光刻工具的使用,经典的硅平面技术的兼容性以及通过在基板上精确定位直接图案化大量平行纳米线的可能性。曲率半径低至150nm的接地和悬浮的多晶硅纳米线已集成到电阻器中,并用作气体(氨)传感器。结果表明,随着SiNWs交换表面与环境的增加,这些纳米线在带电化学物质检测中的潜在用途随着灵敏度的提高而增加。

著录项

  • 来源
  • 会议地点 San Francisco CA(US);San Francisco CA(US);San Francisco CA(US)
  • 作者单位

    Institut d'Electronique et de Telecommunications de Rennes, UMR 6074, Campus de Beaulieu, batiment 11 B, 263 avenue du General Leclerc, 35042 Rennes cedex, France;

    Institut d'Electronique et de Telecommunications de Rennes, UMR 6074, Campus de Beaulieu, batiment 11 B, 263 avenue du General Leclerc, 35042 Rennes cedex, France;

    Institut d'Electronique et de Telecommunications de Rennes, UMR 6074, Campus de Beaulieu, batiment 11 B, 263 avenue du General Leclerc, 35042 Rennes cedex, France;

    Institut d'Electronique et de Telecommunications de Rennes, UMR 6074, Campus de Beaulieu, batiment 11 B, 263 avenue du General Leclerc, 35042 Rennes cedex, France;

    Institut d'Electronique et de Telecommunications de Rennes, UMR 6074, Campus de Beaulieu, batiment 11 B, 263 avenue du General Leclerc, 35042 Rennes cedex, France;

  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号