Mitsubishi Electric Corporation Advanced Technology R&D Center Tsukaguchi-Honmachi 8-1-1 Amagasaki Hyogo Japan 661-8661;
Mitsubishi Electric Corporation High Frequency & Optical Semiconductor Division Mizuhara 4-1 Itami Hyogo Japan 664-8641;
机译:FIB平面图升空样品制备用于通过CO1.7FE1.3O4薄膜在CO1.7FE1.3O4薄膜中获得的周期纳米结构的TEM表征
机译:平面TEM的二合一样品制备
机译:FIB平面图和侧面横截面TEM样品制备的纳米结构
机译:用于激光二极管的平面视图TEM的网站和层特异性样品制备技术
机译:离线样品制备技术,用于通过基质辅助激光解吸/电离质谱(MALDI MS)改进对生物寡糖的分析。
机译:基于过滤的SEM和TEM样品制备同时进行的技术可快速检测病原体
机译:FIB平面图升降样品制备用于通过微晶分解在CO1.7FE1.3O4薄膜中获得的周期纳米结构的TEM表征
机译:基于激光的原位技术:用于在TEm样品中产生极端条件的新方法