Dept of Materials Science and Engineering, Lehigh University, Bethlehem. PA 18015;
JEOL Ltd., 3-1-2 Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan;
JEOL Ltd., 3-1-2 Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan;
机译:使用像差校正(扫描)透射电子显微镜通过能量色散X射线光谱研究了中子和质子辐照后锆合金中的铁再分布(第454卷,第387页,2014年)
机译:使用像差校正(扫描)透射电子显微镜通过能量色散X射线光谱法(EDX)研究了中子和质子辐照后锆合金中的铁再分布
机译:像差校正扫描透射电子显微镜(STEM)焦点成像,用于[001] / 33度扭曲双晶晶粒边界上铋偏析的三维原子分析。
机译:扫描电子显微镜中电子透射测量的定量分析
机译:像差校正扫描透射电子显微镜中的三维成像
机译:扫描透射电镜通过荧光X射线分析研究与细胞内元素空间定位相关的冷冻未固定肌肉
机译:使用像差校正(扫描)透射电子显微镜通过能量色散X射线光谱(EDX)研究中子和质子辐照后锆合金中的铁再分布
机译:用扫描透射电子显微镜定量研究U-Nb合金的X射线