Department of Photonics National Chiao Tung University 1001 Ta-Hsueh Road East District Hsinchu City 30010 Taiwan;
Department of A;
Light emitting diodes; Surface morphology; Reliability; Degradation; Temperature measurement; Voltage measurement; Rough surfaces;
机译:咸水蒸气中正向偏压作用下InGaN / GaN LED的降解
机译:咸水蒸气中反向偏置操作下AlGaInP发光二极管的降解
机译:通过使用(In)GaN接触层降低InGaN / GaN基发光二极管的正向偏置电压
机译:咸蒸汽环境前偏压作业下GAN的可靠性分析
机译:前馈和前馈XOR PUF的抗攻击性和可靠性分析
机译:食品和饮料环境分析和监测系统(Foodbeams™):学校食品和饮料环境中的可靠性研究
机译:通过前向偏置改善MOSFET热载流子的可靠性