空間電荷分布測定および量子化学計算解析を用いた ェポキシ樹脂のキャリアトラップ深さの評価

摘要

本報告では、硬化剤の異なる2種類のエポキシ樹脂について、高温高電界下における空間電荷蓄積特性を調査し、直流高電圧印加後の短絡中の電荷減衰から、キャリアのトラップ深さを算出した結果と、量子化学計算解析から得られたキャリアトラップ深さを比較し、ェポキシ樹脂中で実際に働いているトラップの深さの検討を行った。その結果、空間電荷蓄積減衰から算出したトラップ深さはァミン系の硬化剤を用いたエポキシ樹脂(EP-A)で0.64eV、酸無水物類の硬化剤を用いたエポキシ樹脂(EP-NH)では0.67 eVと算出された。これに対して、量子化学計算から算出されたトラップ深さはEP-Aで1.49 eV、EP-NHでは1.26 eVと求まつた。これらのことからエポキシ樹脂についてキヤリアトラップ深さを量子化学計算から推定する場合は、イオン伝導を考慮した計算モデルを考案する必要があると言える。