IHP, Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany;
机译:硅片的一次性衰减全反射红外晶体:表面红外光谱学的多功能方法
机译:用深层瞬态光谱法测定掺氮硅中与氮有关的深供体中心及其先前物种的起源
机译:掺杂硅薄膜层的详细拉曼光谱分析及其在异质结硅晶片太阳能电池中的可行性
机译:通过红外光谱法测定薄硅晶片中的氮气
机译:通过微波,傅立叶变换红外光谱和原子吸收光谱法确定的气相物质的绝对浓度与沉积在电子回旋共振反应器中的二氧化硅膜的特性相关。
机译:类金刚石碳涂层硅晶片和铁敏感染料的红外衰减全反射光谱腐蚀检测
机译:通过减弱的总反射红外光谱法测定水中挥发性有机化合物和金刚石碳涂层硅晶片