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【24h】

Effects of built-in electric field on photoluminescence decaytime of GaN self-assembled quantum dots

机译:内置电场对GaN自组装量子点光致发光衰减时间的影响

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摘要

Size dependence of photoluminescence (PL) decay time in GaN self-assembled quantumdots (SAQDs) is investigated. Two samples having different average size of QDs wereprepared. The measurement has revealed that larger QD sample shows longer PL decaytime and smaller emssion energy than smaller one. The dependence of PL decay time onemission energy in both samples smoothly connects with each other. The PL decay timestrongly increase by almost three orders magnitude with decreasing the emmision energy, thatis, with increasing the size of QD. The increase of PL decay time with increasing the size ofGaN SAQDs is attributed to the reduced oscillator-strength due to the strong built-in electricfield in the GaN/AlN heterostructures.
机译:研究了GaN自组装量子点(SAQD)中光致发光(PL)衰减时间的大小依赖性。制备具有不同QD大小的两个样品。测量表明,与较小的QD样本相比,较大的QD样本显示更长的PL衰减时间和较小的发射能量。两个样品中PL衰变时间单发射能量的相关性相互平滑联系。 PL衰减时间随发射能量的减少(即随QD尺寸的增加)而急剧增加近三个数量级。随着GaN SAQD尺寸的增加,PL衰减时间的增加归因于GaN / AlN异质结构中强大的内置电场,导致振荡器强度降低。

著录项

  • 来源
    《》|2002年|1-8|共8页
  • 会议地点 Edinburgh(GB);Edinburgh(GB)
  • 作者单位

    Research Center for Advanced Science and Technology University of Tokyo 4-6-1 Komaba Megro-ku Tokyo 153-8904 Japan;

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