机译:电流对具有Sn-Ag-Cu焊料互连的细间距球栅阵列封装的长期可靠性的影响
机译:等温时效对具有不同Sn-Ag-Cu焊点的细间距球栅阵列封装的长期可靠性的影响
机译:等温老化对带有Sn-Ag-Cu焊料互连的细间距球栅阵列封装的长期可靠性的影响:芯片尺寸效应
机译:在细间距封装基板的两个侧面上同时进行更好的同时电解焊料沉积
机译:集成电路-基板封装制造中可使用的铜电沉积工艺
机译:锡膏合金的可靠性研究以改善表面安装细间距元件的焊点
机译:使用au-pt-pd厚膜导体在低温共烧陶瓷(LTCC)基板上分析细间距倒装焊料互连的拉伸强度行为。
机译:利用au-pt-pd厚膜导体在低温共烧陶瓷(LTCC)基板上分析细间距,倒装芯片焊料互连的拉伸强度行为