中ひずみ速度域引張試験による材料モデル構築と電子機器モデルの動的FEM 解析

摘要

ノートPC や携帯端末などの電子機器はしばしば落下等による衝撃負荷を受けるため，CAE の発展の著しい設計分野では，それらの機器の堅牢性を確保するため落下?衝撃強度シミュレーションが行われる．電子機器に用いられる金属，樹脂材料では，衝撃負荷時の降伏／流動応力におけるひずみ速度依存性を無視できないものも多いことから，考慮すべき低～中速度域（10~（-2）～10~2 s~（-1））で正確な応力－ひずみ関係を得て，ひずみ速度依存性を考慮した適切な材料のモデル化が求められるようになってきた．