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【24h】

Density Functional Theory Calculations for the Simulation of Secondary Electron Yield

机译:密度泛函理论计算仿真二次电子产量的仿真

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摘要

Suppressing the harmful multipactor effect by, for instance, reducing secondary electron yield (SEY) is crucial in the design of RF space technologies. Therefore, improving fundamental understanding of how structural and electronic features of materials affect the SEY is necessary. In this benchmark work, we use density functional theory calculated properties to simulate, via Monte Carlo method, the SEY of simple metals copper and silver. As in these simulations the dielectric property i.e. the energy and momentum dependent energy loss function plays a major role, we focus our study on the computational procedures necessary to obtain reliable first principles data.
机译:例如,通过降低二次电子产量(SEY)对RF空间技术设计至关重要的有害多移液效果。 因此,需要改善对材料的结构和电子特征如何影响SEY的基本理解是必要的。 在该基准工作中,我们使用密度泛函理论计算的性能来模拟,通过Monte Carlo方法,简单金属铜和银的SEY。 如在这些模拟中,能量和动量依赖的能量损失函数发挥了重要作用,我们将我们的研究专注于获得可靠的第一原理数据所需的计算程序。

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