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【24h】

FPGAとDACを用いた30MHz以下のEMI試験装置点検用 対数目盛コムジェネレータの開発

机译:开发EMI检测设备点体积形式COM发生器,用于EMI测试设备点使用EMI测试设备使用FPGA和DAC

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摘要

本発表では、FPGAによる任意波形発生装置を用いた対数目盛コムジェネレータを提案した。提案したコムジェネレータは9kHz~30MHzの周波数帯をカバーできると同時に、出力レベルは90dBuV±0.02dBであり、広帯域にわたってフラットな周波数特性が得られた。また、温度変化がない場合、コムジェネレータ出力の標準偏差は0.01dB以下であり、極めて安定である。 今後は、文献で提案されているようなリミットラインコムの設計や、放射磁界コムジェネレータの設計を行うとともに、提案したコムジェネレータを仲介器としたラウンドロビン試験を行う予定である。
机译:在该演示中,提出了使用FPGA使用任意波形发生器的对数刻度COM发生器。所提出的Congerator可以覆盖9kHz至30MHz的频带,同时,输出水平为90dBuv±0.02dB,并在宽带上获得扁平频率特性。另外,当没有温度变化时,COM发生器输出的标准偏差为0.01 dB或更小,这是非常稳定的。在未来,我们计划在文献中提出的,设计一个有限的线条COM,设计辐射磁场COM发生器,并使用所提出的Congenerator作为中间体进行循环测试。

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