首页> 外文会议>International Exhibition and Conference on Electromagnetic Compatibility >Einfluss der Bordnetznachbildung auf Storfestigkeitsmessverfahren (z.B. BCl) oberhalb 100 MHz
【24h】

Einfluss der Bordnetznachbildung auf Storfestigkeitsmessverfahren (z.B. BCl) oberhalb 100 MHz

机译:车辆电气系统的影响(例如BCL)高于100 MHz

获取原文
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Bei Storfestigkeitsmessungen insbesondere im Frequenzbereich oberhalb 100 MHz kann man gelegentlich beobachten, dass Pruflinge (DUTs - Device Under Test) in einem Labor die Anforderungen einhalten, im anderen Labor jedoch nicht. Auf den ersten Blick verwundert dies, sind doch die Messaufbauten und Messmethoden standardisiert.
机译:对于叉态测量,特别是在100 MHz以上的频域中,您可以偶尔观察到实验室中的预序(DUTS - 设备)符合要求,但不在其他实验室中。乍一看,这惊喜,但测量设置和测量方法标准化。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号