Ellipsometry; real time; thin films; film-substrate system; optical constants; combined reflection and transmission; closed-form inversion;
机译:薄膜和多层系统的透射和反射椭偏
机译:薄膜和多层系统的透射和反射椭偏
机译:通过将全内反射椭圆仪与标准椭圆仪和反射仪结合使用,增强了对介电功能和吸收薄膜厚度的敏感性
机译:薄膜-基材系统的实时组合反射和透射椭圆仪
机译:实时原位椭偏仪可控制减反射膜在半导体激光面上的沉积。
机译:氟化磷脂双层分子的结构和热致相行为:联合衰减全反射FTIR光谱和成像椭偏研究
机译:胶片基板系统的主角,主方位角和主角椭圆形测定法
机译:基于实时椭圆测量法的透射超声成像