Storage life; Goodness; Fit test; Electronic device;
机译:通过转换为正态性进行拟合优度测试:基于经典和特征函数的方法之间的比较
机译:射频电子安全设备的测试方法:第2部分-实验室测试的发展
机译:基于II类审查数据的寿命分布拟合优度检验
机译:基于拟合试验方法良善的电子设备储存寿命研究
机译:拟合优度测试中的积分变换方法
机译:利用邻域依赖和拟合优度检验的基于双树复小波变换的信号去噪方法
机译:基于正态分布拟合的机载电子设备寿命预测方法
机译:加速寿命试验中假设的非参数估计和拟合优度检验