stober silica; langmuir-blodgett films; scanning angle reflectometry; UV-Vis spectroscopy;
机译:围绕Brewster角的扫描角差分反射法可探测超薄介电膜
机译:用光学方法确定表征薄膜的结构参数:扫描角反射法和光波导光模光谱法的比较
机译:通过扫描角反射法表征薄蛋白膜
机译:固体支撑的纳米结构薄膜的特征在于扫描角反射法和紫外可见光谱法
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:Å-压痕用于无损弹性模量测量支持的超硬超薄膜和纳米结构
机译:通过扫描隧穿显微镜研究的Si表面上的固相外延。原子探针现场离子显微镜的最新进展及其在磁性薄膜纳米结构分析中的应用。