机译:单端回路组成识别-第一部分:TDR测量的分析方法
机译:使用LabView中的反卷积技术改进TDR / TDT测量
机译:技术说明:用于主动控制的性能测量;被动插入损耗(PIL),主动插入损耗(AIL)和总插入损耗(TIL)
机译:SET2DIL:从单端TDR / TDT测量导出差分插入丢失的方法
机译:时域反射仪/时域透射计算机断层扫描(TDR / TDT CT)的理论和应用方法。
机译:完全通过计算机方法得出的神经传导测量结果的可重复性
机译:SUB-10 PICCONCOND差分TDR和TDT脉冲源
机译:合同的最终工程报告提供测试数据和RF连接器插入损耗测量的首选测试方法