Untersuchung einer Streuparameter-Testumgebung aus modularen RF PXI Instrumenten

摘要

Die vorliegende Arbeit beschreibt die Moglichkeiten zur Synthese von Netzwerkanalysatoren im Umfeld des modularen Halbleitertestsystems der Firma Konrad Technologies. Neben einleitenden Gedanken zur grundsatzlichen Realisierung von Streuparameter-Testumgebungen und der Bedeutung im ATE Parametertest, wird ein Konzept der Konrad S-Parameter Testset Familie vorgestellt. Als exemplarischer Synthesefall dient ein skalarer, kostengunstiger Netzwerkanalysator (NWA), bestehend aus NI PXI RF Instrumenten in Verbindung mit der Konrad Hardware Erweiterung im Terminal Modul Formfaktor (6U). Ferner werden die Bedeutung des Systemkalibrierkonzepts fur die maximal erreichbare Genauigkeit und systembedingte, genauigkeitslimitierende Faktoren behandelt.