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【24h】

Measuring Oscilloscope Voltage Probe Performance

机译:测量示波器电压探头性能

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摘要

GaN has exceeded the limits of oscilloscope voltage measurements. Not because of the oscilloscope, but because of the probe transfer function limitations and because of the lack of de-embedding. An additional constraint is that most probes are designed and calibrated using a 50Ω signal generator. Unfortunately, there aren't any power supplies with 50Ω impedance. Clearly a better method of measuring and calibrating oscilloscope probes, at GaN speeds, is needed. In this session I'll provide three methods of accurately measuring oscilloscope probe response, one in time domain and two in frequency domain, one of which uses the oscilloscope as a high frequency Vector Network Analyzer (VNA).
机译:GaN超出了示波器电压测量的限制。 不是因为示波器,而是因为探测传递函数限制并且由于缺乏去嵌入而。 额外的约束是使用50Ω信号发生器设计和校准大多数探测器。 不幸的是,没有任何带有50Ω阻抗的电源。 清楚地,需要在GaN速度下测量和校准示波器探头的更好方法。 在本次会话中,我将提供三种准确测量示波器探头响应的方法,一个在频域中的两个在频域中,其中一个是使用示波器作为高频矢量网络分析仪(VNA)。

著录项

  • 来源
    《Design Conference》|2020年|1(CD-ROM)|共20页
  • 会议地点
  • 作者

    Steve Sandler;

  • 作者单位
  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类 TN40-53;
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