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Five years of traceable electrical calibrations of AC temperature measuring devices

机译:AC温度测量装置的五年可追踪电气校准

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摘要

At the TEMPERATURE '98 Conference, the complete PTB set of instruments for the calibration of AC temperature measuring devices was presented for the first time [1]. Since then approx. 60 calibrations for DKD calibration laboratories, verification offices, manufacturers of temperature measuring devices, foreign state institutes and PTB laboratories have been carried out. The following contribution gives examples of the long-term behaviour of individual devices and shows how many of the devices tested did not comply with the manufacturer's specifications. Furthermore, it presents the new possibilities of calibration within the DKD.
机译:在98次会议上,首次提出了用于校准AC温度测量装置的完整PTB仪器[1]。从那时起约。对DKD校准实验室的60校准,验证办公室,温度测量装置制造商,外国机构和PTB实验室的制造商已经进行。以下贡献提供了各个设备的长期行为的示例,并显示了测试的许多设备的设备不符合制造商的规格。此外,它提出了DKD中校准的新可能性。

著录项

  • 来源
    《Temperatur》|2003年||共7页
  • 会议地点
  • 作者

    R. Vollmert; G. Ramm;

  • 作者单位
  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类 T-53;
  • 关键词

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