机译:ToF-SIMS用同位素示踪剂研究高温水中和O_2中镍基合金表面氧化物层的生长
机译:由TOF-SIMS的304L不锈钢形成的无源膜中的离子输送机制,具有〜(18)O同位素示踪剂
机译:通过稳定的同位素示踪剂研究摩擦化学:朗缪尔-布洛杰特膜的TOF-SIMS分析及其摩擦学性质检查
机译:同位素示踪和TOF-SIMS分析研究不锈钢表面氧化物生长机理及氢进入
机译:通过掠入射时表面上氢离子散射研究了基本电荷转移机制。
机译:氧化氘作为同位素示踪剂研究的体内总水和周转水
机译:由TOF-SIMS研究的316L不锈钢表面上形成的无源膜的热稳定性
机译:在不锈钢和硅的氧氢氧化物表面通过水暴露进行氢同位素交换。