太陽電池モジュールのバイパス回路の開放故障検出技術：印加電圧波形の電池温度上昇への影響

摘要

太陽電池モジュールのバイパス回路が開放故障すると，太陽電池に部分影がかかった際に，セルに逆電圧がかかりホットスポットになる恐れがある．また，現状の検出方法ではモジュールを1枚ずつ計測する必要があり，ストリング内の異常モジュールの特定ができないなどの課題がある．メガソーラーなどの大型の発電施設ではモジュールが数千～数万枚以上に及ぶため，簡易で検出時間が短い故障検出方法が必要である．