首页> 外文会议>IEEE International SOI Conference >Bulk inversion in FinFETs and the implied insignificance of the effective gate width
【24h】

Bulk inversion in FinFETs and the implied insignificance of the effective gate width

机译:FINFET的批量反转和有效栅极宽度的隐含无足轻重

获取原文
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Three- and two-dimensional numerical simulations of double-gate (DG) and triple-gate (TG) FinFETs having undoped thin bodies have revealed the significance of bulk-inversion current in I/sub on/, as well as I/sub off/, and the consequent insignificance of the commonly defined effective gate width in comparisons of DG and TG currents.
机译:具有未掺杂的薄体的双栅极(DG)和三栅极(TG)FinFET的三维数值模拟已经揭示了I / SUP ON /,以及I / SUP中的批量反转电流的重要性/,并且随后的常用有效栅极宽度与DG和TG电流的比较中的常用有效栅极宽度的微不足道。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号