Life-cycle engineering - Die Zuverlassigkeit von Steckverbinderkontakten ist kein Zufall

摘要

Die Forderung nach einer Entwicklung innovativer sowie fortschrittlicher Produkte fuhrt dazu, dass verschiedenste Rahmenbedingungen einzuhalten sind. Dazu gehoren neben einer marktgerechten Konstruktion und Kostenstruktur, die rechtzeitige Verfugbarkeit der Produkte. Im Fokus stehen vor allem eine uberzeugende Qualitat sowie eine lange Lebensdauer mit entsprechendem Langzeitverhalten. Mit Hilfe des in dieser Studie erarbeiteten Modells, den zugehorigen Lebensdauerversuchen und der statistischen Auswertung werden Ausfallwahrscheinlichkeit, Uberlebenswahrscheinlichkeit und Ausfallrate eines neuentwickelten Steckverbinderkontaktes abgeleitet. Die Definition und Durchfuhrung der hierfur notwendigen Testszenarien erfolgte uber die Beschreibung des Fehlerverhaltens unter der Berucksichtigung des Einsatzprofiles. Eine Verkurzung der Lebensdauerversuche ist dabei z.B. mit den aus der Literatur bekannten Modellen bzw. Beschleunigungsalgorithmen wie nach Arrhenius, Hallberg - Peck und Coffin-Manson moglich. Die Lebensdauerversuche wurden dabei nicht nur statistisch ausgewertet, sondern die hierbei induzierten Ausfalle wurden oberflachenanalytisch untersucht. Ziel dieser Untersuchungen ist es, die Auswirkung der verschiedenen Klimata auf die Ausfallmechanismen zu charakterisieren, um einerseits ein tieferes Verstandnis der zugrundeliegenden kontaktphysika-lischen Wirkzusammenhange zu erarbeiten und um andererseits eine Bestatigung der angewendeten Beschleunigungs-modelle zu erhalten.