INFLUENCIA DA PREPARACCO METALOGRAFICA E DAS CONDICOES DE AQUISICCO DAS IMAGENS NA QUANTIFICACCO AUTCMATICA DE FASES SECUNDARIAS

摘要

objetivo deste trabalho foi investigar a influencia da preparacao metalografica e das condicoes do processo de aquisicao de imagens sobre a quantificacao de fases secundarias atraves de uma rede neural do tipo perceptron multicamadas. As imagens foram obtidas por microscopia eletronica de varredura (MEV) a partir de revestimentos de superligas a base de Ni soldadas pelo processo TIG com alimentacao de arame frio utilizando como substrato um aco C-Mn. Os resultados mostraram que o ataque excessivo (preparacao metalografica inadequada) da microestrutura e/ou o ajuste inadequado de brilho e contraste no momento da aquisicao das imagens interferem na qualidade da segmentacao e consequentemente nas quantificacoes obtidas para as fases secundarias.