Temperature measurement; Semiconductor device measurement; Integrated circuit modeling; Load modeling; Propagation delay; Power supplies;
机译:用于90 nm CMOS技术的超低功耗6位TC-ADC的动态可重构再生比较器的分析和优化
机译:采用180nm CMOS技术的低压低功耗双尾比较器的设计
机译:130-NM CMOS技术的15 GHz,电压控制环形振荡器的设计:优化中央频率和功耗
机译:采用130 nm CMOS技术的超低压轨至轨比较器的设计和性能分析
机译:SOI-CMOS和本体CMOS中模拟电压比较器的性能分析
机译:采用130 nm CMOS技术的集成高分辨率数字彩色光传感器
机译:用于90nm CMOS技术的超低功耗6位TC-ADC的可动态配置再生比较器的设计,分析和优化