white light; spectral interferometry; Michelson interferometer, beamsplitter cube; effective thickness; thin film; phase function; phase retrieval;
机译:分光立方体在白光光谱干涉法中的色散误差
机译:白光光谱干涉法可测量已知色散的光学元件的有效厚度
机译:基于小波变换在光谱分辨的白光干扰法中快速可靠地测量薄膜厚度曲线
机译:分光立方体的有效有效厚度和白光光谱干涉法中的色散误差
机译:扫描距离不正确对边界检测误差和通过光谱域光学相干断层扫描测量黄斑厚度的影响:一项横断面研究
机译:分光立方体在白光光谱干涉法中的色散误差
机译:用于白光干涉测量的分束器立方体