delays; fault diagnosis; integrated circuit testing; probability; statistical analysis; statistical fault coverage metric; path delay fault model; circuit path testing; delay fault coverage; test quality; path selection methods; transition fault; probability; statistical analysis;
机译:基于不可测路径分析的路径延迟故障故障效率统计估计
机译:总延迟故障模型和统计延迟故障覆盖率
机译:过渡路径延迟故障:针对小和大延迟缺陷的新路径延迟故障模型
机译:实际路径延迟故障的统计故障覆盖率度量
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:在非广泛统计物理学方面对压裂的复杂性:从地震缺陷到北极海冰压裂
机译:None