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An experimental study of N-detect scan ATPG patterns on a processor

机译:N检测扫描ATPG图案在处理器上的实验研究

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摘要

This paper studies the impact of N-detect scan ATPG patterns on test quality and associated test costs. An incremental method for test generation is presented. Metrics to evaluate the richness of the test set are presented. The natural N-detect profiles of regular one-detect test sets and the impact to test data volume and test time of generating additional patterns is studied. Results are presented on an lntel/spl reg/ Pentium/spl reg/ 4 processor. Simulation results from evaluating the patterns on layout extracted and random bridges are presented. Silicon data from production test shows the effectiveness of N-detect tests.
机译:本文研究了N检测扫描ATPG模式对测试质量和相关测试成本的影响。提出了一种测试生成的增量方法。提出了评估测试集的丰富度的指标。研究了常规单检测测试集的自然n检测概况以及对测试数据量的影响以及产生附加模式的测试时间。结果显示在LNTEL / SPL REG / PENTIUM / SPL REC / 4处理器上。提出了评估布局上提取的图案和随机桥的模式的仿真结果。生产测试中的硅数据显示了N检测测试的有效性。

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