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【24h】

The Application Of A Dual-Substrate Technique On A 10-Gb/s CMOS Phase Detector Design

机译:双基板技术在10 GB / S CMOS相位检测器设计中的应用

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摘要

This paper presents a new dual-substrate technique used to overcome the small rail-to-rail supply voltage headroom available for short channel length CMOS technology. The technique is applied on a full-rate CMOS phase detector. (PD) for Synchronous Optical Network (SONET) OC-192 systems. A sample-and-hold PD for 10-Gb/s Non Return Zero (NRZ) data implemented in a standard 0.18μm CMOS technology is presented. The. measurement results show that a linear range with no dead zone on phase error from -π/2 toπ/2 is achieved. The core circuit dissipates a total power of 14.9 mW from a +/-1.6 V supply.
机译:本文介绍了一种新的双基板技术,用于克服用于短沟道长度CMOS技术的小型轨到轨电源电压净值。该技术应用于全速率CMOS相位检测器。 (PD)用于同步光网络(SONET)OC-192系统。提出了一种在标准0.18μmCMOS技术中实现的10-GB / S非返回零(NRZ)数据的样品和保持PD。这。测量结果表明,实现了从-π/ 2Toπ/ 2的相位误差上没有死区的线性范围。核心电路从+/- 1.6 V供电耗散14.9兆瓦的总功率。

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