机译:扫描非线性介电显微镜定量测量极性反转的压电薄膜层的厚度
机译:用扫描非线性介电显微镜测量介电薄膜中极性反转的层状结构的方法
机译:通过使用扫描非线性介电显微镜检测高阶非线性介电常数来可视化位于金属氧化物-氮化物-氧化物-半导体-闪存薄膜中的电子
机译:扫描非线性介电显微镜测定压电薄膜的晶体极性
机译:定向钙钛矿薄膜的介电和压电非线性。
机译:厚度变化对(BaCa)(TiZr)O3外延薄膜的结构介电和压电性能的影响
机译:电子显微镜测定氮化铝薄膜晶体极性的测定
机译:金属单晶上的金属氧化物薄膜:通过扫描隧道显微镜观察结构和生长