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Study of the short-circuit behavior of homogeneous IGBTs using experimental results and a physics based SPICE-model

机译:使用实验结果研究均匀IGBT的短路行为及基于物理的含水剂模型

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摘要

The paper presents a detailed analysis of the external and internal behavior of homogeneous IGBTs under different short circuit cases. The study includes experimental results obtained with a specially designed test circuit as well as SPICE simulations performed using a physics based IGBT model.
机译:本文在不同短路壳体下对均匀IGBT的外部和内部行为进行了详细分析。该研究包括使用专门设计的测试电路获得的实验结果以及使用基于物理学的IGBT模型进行的Spice模拟。

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