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Application of Analytical Methods for Porcelain Enamel

机译:分析方法在瓷搪瓷中的应用

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摘要

Defects can be related to materials, procedures, and operations. After reviewing the inspection reports and visually examining the defect area, various analytical methods to troubleshoot the porcelain enamel defect may need to be applied. Optical microscopy and SEM analysis of the defect are the most common. FTIR, XPS, and XRD analysis can be applied for special cases. There are pros and cons for each method.
机译:缺陷可以与材料,程序和操作有关。 在审查检验报告并视觉检查缺陷区域后,可能需要应用各种分析方法来解决瓷搪瓷缺陷。 缺陷的光学显微镜和SEM分析是最常见的。 FTIR,XPS和XRD分析可用于特殊情况。 每个方法都有利弊。

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