SiO_2包含NiFe_2O_4ナノ微粒子への官能基修飾とイオン化支援機能

摘要

質量分析は様々な物質の調査や同定に用いられる。その代表的な手法であるマトリクス支援レーザー脱離イオン化法 (MALDI法) では、検体のイオン化を支援するマトリクスを使用する。これまでに当研究室では作製した微粒子がマトリクスとしてのイオン化支援機能を有することを見出し、従来のマトリクスでは難しいとされている低分子領域の質量分析に成功した。今回はSiO_2包含NiFe_2O_4ナノ微粒子を作製し、さらに表面にアミノ基の修飾を行うことで、MS測定における粒径との関連並びに表面修飾によるイオン化支援機能の向上を目的とした。