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【24h】

フローティングパルスプローブ法による電子温度の測定

机译:浮脉探针法测量电子温度

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摘要

プラズマを測定する基礎的な方法として、ラングミュアプローブ(LP)法が挙げられる。しかし、プローブ表面の絶縁物の影響などから、プローブ特性を解析することによって得られるプラズマパラメータに誤差が発生してしまう。そこで、当研究グループでは、LP法よりも解析が簡便で、プローブに電流を流さずに測定が行えるトーンバーストフローティングプローブ(TBFP)法を検討した[1,2]。このTBFP法のより高度な精密性を議論するために、LP法とは異なるプローブ法の導入が必要である。本研究では、プローブにパルス信号を印加するフローティングパルスプローブ(FPP)法を新規に提案する。従来法と比較することで、その有効性について系統的に研究を行った。
机译:作为测量等离子体的基本方法,提到了Langmulo探针(LP)方法。然而,由于绝缘体对探针表面上的影响,通过分析探针特性获得的等离子体参数发生误差。因此,在我们的研究组中,分析比LP方法更简单,并且可以在没有电流流过探针的情况下进行色调突发探针(TBFP)方法[1,2]。为了讨论这种TBFP方法的更高级精度,有必要引入与LP方法不同的探针方法。在本研究中,我们提出了一种新的浮脉探针(FPP)方法,用于将脉冲信号施加到探针。通过与传统方法进行比较,我们系统地研究了其有效性。

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