微分•位相幾何学的考え方を用いた電力ケーブル半導電層の抵抗率測定方法の理論 ー電磁界解析による検証—

摘要

高電圧電力ケーブル•機器の絶縁体の高圧導体側と接地 導体側との界面は電界緩和のため薄肉の平滑半導電層が施 される。この半導電層の抵抗率測定方法について、これま で微分•位相幾何学的考え方を用いた理論を展開してきた。これは曲面抵抗体上の電流の流れを扱うことになる ので，曲面の数学の內，微分幾何学と位相幾何学とのかか わりがでてくると考えたことから始まる。本報告ではその 理論を有限要素法による定常電流解析により検証するもの である。なお、本報告は曲面抵抗薄膜の抵抗率を求める荒 又•寺門両氏による50年前の論文「等角写像の原理によつ て面抵抗率を求める新しい理論」を基盤とし，電力ケープ ル問題に活用したものである。